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특허청, 상표 심사·심판·재판관 합동세미나 개최
 
박형주 기자 기사입력  2017/04/30 [14:48]
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특허청(청장 최동규)이 변리업계 등을 대상으로 28일(금) 오후 3시 서울 강남구에 소재한 한국지식재산센터 19층 대회의실에서 ‘현장 소통과 심사품질 제고를 위한 심사·심판·재판관 합동세미나’를 개최한다고 밝혔다.
 
이번 세미나는 상표·디자인 출원에 대한 심사, 심판 및 소송을 각각 담당하는 심사관, 심판관, 특허법원 판사 등 판단 주체간의 판단기준 및 견해 차이를 최소화하여 일관성 있고 효율적인 심사, 심판 및 소송 방안을 모색함으로서 출원인에게 실질적인 도움을 주고자 마련하였다.
 
주요 내용으로 △대법원·특허법원의 상표·디자인 심결취소소송 및 침해소송 등의 주요 판례를 통한 법원의 견해 연구(특허법원 윤주탁 판사) △실제 분쟁사례를 통해 판단주체와의 견해차이를 극복하기 위한 방법(특허심판원 윤종석 심판관) △최근 상표 심사관의 결정에 대한 이의심사관의 견해 및 이의신청관련 유의사항(특허청 복합상표심사팀 한상규 서기관) 등이 다뤄질 예정이다.
 
특허청 최규완 상표디자인심사국장은 “이번 합동세미나는 상표·디자인분야의 심사·심판·재판관 등 실무자간의 토론을 통해 심사, 심판 및 소송단계에서의 상호 관점의 차이를 극복하기 위한 방안 등이 제시되는 장이 될 것이며 출원인 등은 각 단계에서 적정한 대응 해법을 찾을 수 있는 장이 될 것으로 기대한다”고 밝혔다.
 
한편, 세미나 자료집은 현장에서 배포할 예정이며 기타 자세한 사항은 특허청 상표심사정책과로 문의하면 된다.

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기사입력: 2017/04/30 [14:48]  최종편집: ⓒ 한국무예신문
 
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